厚度標準塊（片）—JJF1306- 2011X射線熒光鍍層測厚儀廣泛應用于電子、半導體、集成電路等 先進制造領域中鍍層膜厚測量儀器的誤差校準 及量值溯源，自支撐金屬膜厚標準片、鍍層膜厚標準 塊、涂覆層測厚儀厚度標準片，滿足JJF1306- 2011 X射線熒光鍍層測厚儀校準規范。

特點：

厚度標準塊（片）—JJF1306- 2011X射線熒光鍍層測厚儀攜帶方便，應用靈活，定值精度高，直 接溯源于國家鍍層膜厚標準。技術指標：

標稱厚度          加工偏差                測量不確定度 

<0.1mm           ±35%                      0.005mm 

0.05~1mm       ±30%                  <0.01mm+5% 

>1~10mm       ±25%                        <5% 

>10~50mm     ±15%                        <5% 

>50mm           ±10%                         <5%

定制產品標價無意義，具體詢價請致電13486690661，姚經理